杨家来：统计过程控制（SPC）

• 【课程对象】 研发工程人员，品质管理人员，品质工程师，生产制造管理人员等设计开发（APQP）团队成员、体系负责人/工程师

【课程时间】1人天或2人天（6H/人天）

【课程背景】

正确认识并掌握设计开发统计工具的应用，灵活应用统计手法，帮助企业即时侦测到异常状况，迅速做出改进的对策。帮助企业有效的降低不良率，提升产品品质，从而达到真正降低成本，提升制程品质的目的！

【课程收益】

• 1、理解SPC基本术语知识在工作中的应用；
• 2、灵活应用SPC，帮助企业即时侦测到过程异常状况，即刻分析过程异常的原因，迅速做出改进的对策；
• 3、熟练的掌握并运用SPC，帮助企业有效的降低不良率，提升产品品质，从而达到真正降低成本，提升制程品质的目的！
• 【课程特色】课程实战，学之能用；结合企业实际案例，有案例有模板！采用“启发互动式教学+课堂讲解+案例分析+小组讨论与练习+现场答疑”，使参训学员现场就能学以致用！
• 【课程对象】 研发工程人员，品质管理人员，品质工程师，生产制造管理人员等设计开发（APQP）团队成员、体系负责人/工程师

【课程时间】1人天或2人天（6H/人天）

【课程大纲】

SPC演进回顾

1. 什么是SQC
2. SQC的精神
3. 什么是SPC
4. SPC演进史
5. 为什么实施SPC

• 案例解析

1. SPC的作用
2. SPC成功的条件
3. SPC失败的原因
4. SPC的重点与难点
5. 基本统计
6. 变差、波动源

• 变差、波动源的定义
• 变差、波动源的理解

1. 群体VS样本
2. 描述制程变化的量
3. SST和SLT的差异
4. 正态分布（Normal Distribution）

• 正态分布的定义
• 正态分布曲线下的面积
• 如何计算正态分布和“工序西格玛Z”
• 分组练习一：根据案例，讨论以下问题：
• 计算 ZUSL、ZLSL，并求出相应的缺陷概率
• 正态分布的位置、形状与过程能力的关系图

1. 管制图
2. 制程或系统变异的来源
3. 制程的两种类型
4. 变异的两种原因及比较

• 两种原因的表现形式
• 两种原因的对策
• 两种原因的差异
• 变异的两种原因 — 过程控制及能力
• 两种原因的比较

1. 两类错误的对比及关系
2. 管制图的原理
3. 规格界限与管制界限
4. 管制图的种类

• 分析用管制图
• 管制用管制图
• 计量型管制图
• 计数型管制图

1. Xbar-R管制图的管制界限及绘制步骤

• 确定管制特性
• 案例解析
• 数据收集
• 子组大小
• 子组频率
• 数据收集 — 分组原则
• 计算Xbar、Ri
• 计算Xbar、R
• 计算R及Xbar图的界限
• 绘制R图
• 绘制Xbar图
• 计算制程能力
• 列入日常管理
• 两种控制图应用示意说明
• 两种控制图应用比较
• 分组练习二：根据案例，讨论以下问题：
• 计算Xbar、R
• 其他管制图选定的原则
• 控制界限更换篇
• 控制界限更换时机

1. P管制图及绘制步骤

• 确定管制项目
• 收集数据
• 分组
• 计算每组的不良率p
• 计算平均不良率
• 计算管制界限
• 绘制管制界限
• 描点
• 判定制程是否稳定
• 分组练习三：根据案例，讨论以下问题：
• 绘制不良品率P管制图
• P 管制图控制界限更换篇
• 控制界限更换时机

1. 两类管制图的比较
2. 管制图的稳定状态的判定
3. 管制图不稳定的七种模式
4. 分析Xbar-R管制图异常原因
5. 分析P管制图异常原因
6. 过程异常处理案例解析
7. 管制图的选择
8. 掌握制程控制之主要因素
9. SPC能解决的问题
10. 制程能力分析
11. 什么是制程能力
12. 为什么要研究制程能力
13. 计量型管制图分析过程能力的前提
14. P 图分析过程能力的前提
15. 制程能力指数Cp

• 双边规格的制程能力指数Cp
• 三种类型情况
• Cp的评估标准

1. 有偏移时的制程能力指数CpK

• 制程能力案例解析
• 综合评价CpK 

1. 什么是制程绩效指数Pp

• 双边规格的制程绩效指数Pp
• 有偏移时的制程绩效指数PpK

1. Cp与Pp的对比及应用及联合使用

• Cp与Pp的对比
• Cp与Pp的对比及应用及联合使用
• Cp与Pp概念理解
• Cpk和Ppk的差异

1. 过程能力与过程性能
2. 制程能力分析之用途
3. 制程能力评价之时机

小结